PRESSMEDDELANDE
1996-02-29
Scanning Probe Microscope
Ny typ av mikroskop
med upplösning till atomnivå

Ett Scanning Probe Microscope (SPM) är en ny typ av specialmikroskop som kan
ge bilder av olika materials yta med upplösning ner till atomnivå. Fördelen med tekniken är att preparering av provet inte behövs och att den kan användas även för stora föremål.
Den nya typen av mikroskopi introduceras nu på de nordiska marknaderna av Kebo Lab AB.

SPM har på senare år fått en allt större användning vid materialutveckling, fibertillverkning och forskning kring polymerer och olika material som används i elektronikindustrin. Tekniken fungerar i olika miljöer, även i vätskor. Upplösningen kan enligt uppgift bli minst lika hög som med elektronmikroskopi.
Principen bakom den nya typen av mikroskop är att en keramspets av en piezoelektrisk keram söker av provets yta. Keramspetsen följer ytan längs tätt upprepade linjer. Genom att registrera variationer i höjdled ger varje avsökt linje en tvådimensionell bild och summan av alla linjer en tredimensionell bild av provets yta.
Om provet är elektriskt ledande kan en metod som heter STM (Scanning tunneling microscope) användas. Då registreras variationerna i höjdled genom att en elektrisk spänning mellan keramspetsen och föremålet ger upphov till en ström. Strömstyrkan varierar då som en funktion av avståndet mellan keramspetsen och provet.
För prov som inte är elektriskt ledande används i allmänhet en annan metod, Atomic Force Microscopy (AFM). Då har keramspetsen antingen kontakt med provytan eller befinner sig på några Ångströms avstånd från den. Eftersom keramspetsen består av en piezoelektrisk keram fungerar den som en sensor för beröring och kan därför undvika att tränga in i provet. När keramspetsen rör sig i höjdled påverkar den samtidigt en reflektor så att den vrids. En laserstråle som är riktad mot reflektorn kommer därmed att reflekteras till olika delar av en sensor beroende på keramspetsens rörelse, som i sin tur beror på ytans utseende.
Ett SPM kan även beskriva sammansättningen i en yta som är helt plan. Då är det variationer i friktionen som får keramspetsen att vrida sig i olika hög grad och därmed påverka laserreflektorn.
Det specialmikroskop som nu introduceras av Kebo Lab kommer från det amerikanska företaget Quesant Instrument Corporation, vars produkter inte har varit tillgängliga i Norden förrän nu. Instrumentet finns i fyra modeller, samtliga levereras som fullständiga system med dator (Pentium) och mjukvara för Windows-miljö.
En av modellerna, Nomad, kan användas på alla typer av ytor. Instrumentet är konstruerat så att det lika gärna kan appliceras på en flygplansvinge som över ett mikrochip. En viktig förutsättning för att SPM-tekniken ska kunna användas på stora ytor är att det är keramspetsen som rör sig över provet i stället för att provet rör sig under keramspetsen./ins

Bildtext:
Scanning Probe Microscope från Quesant levereras alltid som hela system, med dator (Pentium) och mjukvara så att användaren ska få en fungerande konfiguration från början.

För ytterligare information:
Kebo Lab AB
Bill Lif, produktansvarig
Fagerstagatan 18A, S-163 94 SPÅNGA
Tel 08-621 34 00 (tel int:+46 8 621 34 00)
Fax 08-760 45 96 (fax int:+46 8 760 45 96)


N.B.:Denna text finns tillgänglig på diskett i 3.5"-format (Word 5.1a) formaterad för Macintosh-datorer eller PC.