PRESSEMELDING
29. februari l996
Scanningprøvemikroskop
Ny type mikroskop
med en oppløsning ned til atomnivå

Et scanningprøvemikroskop (SPM) er en ny type spesialmikroskop som kan ta bilder av forskjellige materialers overflate ned til atomnivå. Fordelen med teknikken er at prøven ikke krever forbehandling, og den kan benyttes selv til store gjenstander.
Den nye typen mikroskop lanseres nå på de nordiske markedene av Kebo Lab AB.

SPM er de senere år blitt mer og mer brukt i f.m. materialutvikling, fiberproduksjon og forskning på polymere og forskjellige materialer som benyttes i elektronikkindustrien. Teknikken virker i ulike miljøer, selv i væsker. Ifølge oppgiftene kan oppløsningen bli minst like høy som med et elektronmikroskop.
Prinsippet bak den nye typen mikroskop er at en keramspiss av piezoelektrisk keram skanner prøvens overflate. Keramspissen følger overflaten langs tett oppstrekede linjer. Ved åregistrere variasjoner i høyden gir hver avsøkt linje et todimensjonelt bilde og summen av alle linjer et tredimensjonelt bilde av prøvens overflate.
Om prøven er elektrisk ledende kan en metode som heter STM (skanningtunnelmikroskop) benyttes. Da registreres variasjonene i høyden ved at en elektrisk spenning mellom keramspissen og gjenstanden skaper en strøm. Strømstyrken varierer da som en funksjon av avstanden mellom keramspissen og prøven.
For prøver som ikke er elektrisk ledende benyttes generelt en annen metode, atomkraftmikroskopi (AFM, Atomic Force Microscopy). Da har keramspissen enten kontakt med prøveoverflaten eller befinner seg noen ångströms avstander fra den. Ettersom keramspissen består av piezoelektrisk keram, virker den som en føler før berøring og kan derfor unngå å trenge inn i prøven. Når keramspissen beveger seg i høyden, påvirker den samtidig en reflektor slik at den vris. En laserstråle som rettes mot reflektoren reflekteres dermed til forskjellige deler av en føler, alt etter keramspissen bevegelse, som i sin tur avhenger av overflatens utseende.
Et SPM kan til og med beskrive sammensetningen av en overflate som er helt plan. Da er det variasjoner i friksjonen som får keramspissen til å vri seg i ulik høydegrad og dermed påvirke laserreflektoren.
Det spesialmikroskopet som nå lanseres av Kebo Lab kommer fra det amerikanske selskapet Quesant Instrument Corporation. Produktene har ikke vært tilgjengelige i Norden før nå. Instrumentet finnes i fire modeller, og alle leveres som fullstendige system med datamaskin (Pentium) og programvare for Windows-miljø.
En av modellene, Nomad, kan brukes på alle overflate-typer. Instrumentet er konstruert slik at det like gjerne kan anvendes på en flyvinge som på en mikrochip. En viktig forutsetning for at SMP-teknikken skal kunne anvendes på store overflater er at det er keramspissen som beveger seg over prøven istedenfor at prøven beveger seg under keramspissen./ins

Bilde: Skanningprøvemikroskop fra Quesant leveres alltid som et komplett system, med datamaskin (Pentium) og programvare slik at brukeren får riktig konfigurasjon fra begynnelsen av.

Nærmere opplysninger fra:
Kebo Lab AB
Bill Lif, produktansvarlig
Fagerstagatan 18A
S-163 94 SPÅNGA, Sverige
Tlf.: 095 46 8 621 34 00
Fax: 095 46 8 760 45 96



N.B.: Denne teksten er tilgjengelig på 3.5" diskett
(Word 5.1a) formatert til Macintosh eller PC.