PRESSEMEDDELELSE
29.02.1995
Scanning Probe Microscope
Ny type mikroskop
med opløsning til atomniveau

Et Scanning Probe Microscope (SPM) er en ny type specialmikroskop, som kan frembringe billeder af forskellige materialers overflade med en opløsning helt op til atomniveau. Fordelen ved denne teknik er, at prøven ikke behøver præpareres, og at den også kan anvendes på store emner.
Den nye type mikroskopi indføres nu på de nordiske markeder af Kebo Lab AB.

SPM er i de seneste år i stigende grad blevet brugt til materialeudvikling, fiberproduktion og forskning i polymerer og forskellige andre materialer, som anvendes i elektronikindustrien. Teknikken fungerer i forskellige miljøer, selv i væsker. Opløsningen kan efter sigende blive lige så høj som ved elektronmikroskopi.
Princippet bag den nye type mikroskop er, at en spids af piezoelektrisk keramik afsøger prøvens overflade. Keramikspidsen følger overfladen i tæt på hinanden gentagne baner. Ved at registrere variationer i det lodrette plan, danner instrumentet for hver afsøgt bane et todimensionalt billede, og summen af alle banerne danner et tredimensionalt billede af prøvens overflade.
Hvis prøven er elektrisk ledende, kan en metode kaldt STM (Scanning tunneling microscope) bruges. Her registreres variationerne i det lodrette plan ved at en elektrisk spænding mellem keramikspidsen og emnet danner en strøm. Strømstyrken varierer som en funktion af afstanden mellem keramikspidsen og prøven.
Til ikke-ledende prøver anvendes normalt en anden metode kaldt Atomic Force Microscopy (AFM). Ved denne metode er keramikspidsen enten i kontakt med prøvens overflade eller befinder sig i en afstand af nogle få Ångström fra denne. Eftersom spidsen består af piezoelektrisk keramik, fungerer den som en berørings-sensor og kan derfor undgå at trænge ind i prøven. Når keramikspidsen bevæger sig i det lodrette plan, påvirker den samtidig en reflektor, så den vrider sig. En laserstråle, som er rettet mod reflektoren, bliver derved reflekteret til forskellige dele af en sensor, afhængig af keramikspidsens bevægelse, som igen er afhængig af overfladens udseende.
Et SPM kan også beskrive sammensætningen af en overflade, som er helt plan. Her er det variationer i friktionen, som får keramikspidsen til at vride sig i forskellig udstrækning og derved påvirke laserreflektoren.
Det specialmikroskop, som nu indføres af Kebo Lab, kommer fra det amerikanske firma Quesant Instrument Corporation, hvis produkter ikke tidligere har kunnet fås her i Norden. Instrumentet findes i fire modeller, der alle leveres som komplette anlæg med computer (Pentium) og Windows-software.
En af modellerne, Nomad, kan bruges til alle typer overflade. Instrumentet er konstrueret, så det er lige så velegnet til anvendelse på en flyvinge som på en mikrochip. En vigtig forudsætning for at SPM-teknikken kan bruges på store overflader er, at det er keramik-spidsen, som bevæger sig over prøven, og ikke prøven, der bevæger sig under keramikspidsen./ins

Billede:
Scanning Probe Microscope fra Quesant leveres altid som et komplet anlæg med computer (Pentium) og software, så brugeren får en funktionsdygtig konfiguration fra starten.

For yderligere information, kontakt venligst:
Kebo Lab AB, Bill Lif, produktansvarlig
Fagerstagatan 18A
S-163 94 SPÅNGA, Sverige
Tlf.: 0046 8 621 3400
Fax: 0046 8 760 4596


N.B.: Denne tekst fås på diskette i 3,5" format
(Word 5.1a), formateret til Macintosh eller PC.